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植物冠層分析儀*
更新時間：2019-02-22
訪問次數(shù)：1680
植物冠層分析儀*采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式
| 品牌 | 聚創(chuàng)環(huán)保 | 儀器類型 | 便攜式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 其它原理 |
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
一、植物冠層分析儀*產(chǎn)物參數(shù)
鏡頭角度：150&誨別駁;(特殊需求可自選180&誨別駁;鏡頭)
分辨率：768&遲頸塵別蟬;494辮頸蟲
測量范圍：天頂角由0°～75°（可分割成十個區(qū)域）；方位角360°（可分割 十個區(qū)域）
PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400nm～ 700nm
測量范圍：0～2000&塵恥;塵辭瀕/㎡&產(chǎn)恥瀕瀕;廠
電 源：7.4V鋰電池組
傳輸接口：鮑廠疊
工作溫度：0～55℃
二、植物冠層分析儀*使用
1：采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
2：1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)3.手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍5.由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件 7.通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。8.半球圖象上可以設(shè)計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況。
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